Long-Term Tum-by-Tum Measurements of Electron bunch Profiles at MHz Repetition Rates in a Storage Ring with Single-Shot Electro-Optical Sampling

	Anno
	
				2018
			
	Codice ISBN
	
				978-153863809-5
			
	Appare nelle tipologie:
	
				2.1 Contributo in volume (Capitolo o Saggio)

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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11369/480771